В ходе сканирования поверхности с помощью квантового вихря можно визуализировать несовершенства структуры в толще материала, получив разрешение на порядок выше возможностей классической магнитной силовой микроскопии. Способность метода находить неразличимые дефекты задает новые стандарты в контроле качества сверхпроводников и сверхпроводящих приборов.